A63.7081 Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope Pro FEG SEM, 15x ~ 800000x

Kuerz Beschreiwung:

15x ~ 800000x Schottky Field Emission Gun Scanning Elektronenmikroskop
E-Beam Beschleunegung Mat Stabile Beam Stroumversuergung Exzellent Bild Ënner Niddereg Spannung
Net Leedung Probe Kann Dir Beobachtet Direkt Kee Brauch Am Niddregspannung Sputtéiert ze ginn
Einfach a frëndlech Operatiounsinterface, All Kontrolléiert Mat Maus Am Windows System
Grouss Probe Raum Mat Fënnef Axen Eucentric Motoriséiert Bühn Grouss Gréisst, Max Exemplar Dia.320mm
Minimum Bestellquantitéit:1

Produkt Detail

Produkt Tags

A63.7081_01.jpg

Produkt beschreiwung

A63.7081 Schottky Field Emission Gun Scannen Elektronenmikroskop Pro FEG SEM
Resolutioun		1nm @ 30KV (SE); 3nm @ 1KV (SE); 2.5nm@30KV (BSE)
Vergréisserung		15x ~ 800000x
Elektronepistoul		Schottky Emissioun Elektronepistoul
Elektronenstrahlstroum		10pA ~ 0.3μA
Beschleunegen Voatage		0 ~ 30KV
Vakuum System		2 Ionpompelen, Turbo Molekularpompel, Mechanesch Pompel
Detektor		SE: Héije Vakuum Sekundär Elektronen Detektor (Mat Detektor Schutz)
		BSE: Halbleiter Véier Segmentéierung Réck Scattering Detektor
		CCD
Exemplar Bühn		Fënnef Axen Eucentric Motoriséiert Bühn
Rees Range	X	0 ~ 150mm
	Y	0 ~ 150mm
	Z	0 ~ 60mm
	R	360º
	T	-5º ~ 75º
Max Exemplarendurchmesser		320mm
Ännerung		EBL; STM; AFM; Heizungsstage; Cryo Stage; Tensile Stage; Micro-Nano Manipulator; SEM + Coating Machine; SEM + Laser etc.
Accessoiren		Röntgen Detektor (EDS), EBSD, CL, WDS, Coating Machine etc.

A63.7081_03.jpg

A63.7081_04.jpg

A63.7081_05.jpg

A63.7081_06.jpg

A63.7081_07.jpg

A63.7081_08.jpg

A63.7081_09.jpg

A63.7081_10.jpg

A63.7081_11.jpg

Virdeel a Fäll

Scannen Elektronenmikroskopie (Sem) ass gëeegent fir d'Observatioun vun der Uewerflächentopographie vu Metaller, Keramik, Halbleiter, Mineralien, Biologie, Polymeren, Kompositiounen an Nano-Skala een-zweedimensional, zweedimensional an dreidimensional Materialien (sekundär Elektronebild, Backscattered Elektron Image). Et kann benotzt ginn fir de Punkt, d'Linn an d'Uewerflächekomponente vum Mikroregioun z'analyséieren. Et gëtt vill benotzt am Pëtrol, Geologie, Mineralfeld, Elektronik, Halbleiterfeld, Medizin, Biologiefeld, chemesch Industrie, Polymermaterialfeld, krimineller Enquête iwwer ëffentlech Sécherheet, Landwirtschaft, Bëschaarbecht an aner Felder.