A63.7081 Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope Pro FEG SEM, 15x ~ 800000x
Produkt beschreiwung
A63.7081 Schottky Field Emission Gun Scannen Elektronenmikroskop Pro FEG SEM | ||
Resolutioun | 1nm @ 30KV (SE); 3nm @ 1KV (SE); 2.5nm@30KV (BSE) | |
Vergréisserung | 15x ~ 800000x | |
Elektronepistoul | Schottky Emissioun Elektronepistoul | |
Elektronenstrahlstroum | 10pA ~ 0.3μA | |
Beschleunegen Voatage | 0 ~ 30KV | |
Vakuum System | 2 Ionpompelen, Turbo Molekularpompel, Mechanesch Pompel | |
Detektor | SE: Héije Vakuum Sekundär Elektronen Detektor (Mat Detektor Schutz) | |
BSE: Halbleiter Véier Segmentéierung Réck Scattering Detektor | ||
CCD | ||
Exemplar Bühn | Fënnef Axen Eucentric Motoriséiert Bühn | |
Rees Range | X | 0 ~ 150mm |
Y | 0 ~ 150mm | |
Z | 0 ~ 60mm | |
R | 360º | |
T | -5º ~ 75º | |
Max Exemplarendurchmesser | 320mm | |
Ännerung | EBL; STM; AFM; Heizungsstage; Cryo Stage; Tensile Stage; Micro-Nano Manipulator; SEM + Coating Machine; SEM + Laser etc. | |
Accessoiren | Röntgen Detektor (EDS), EBSD, CL, WDS, Coating Machine etc. |
Virdeel a Fäll
Scannen Elektronenmikroskopie (Sem) ass gëeegent fir d'Observatioun vun der Uewerflächentopographie vu Metaller, Keramik, Halbleiter, Mineralien, Biologie, Polymeren, Kompositiounen an Nano-Skala een-zweedimensional, zweedimensional an dreidimensional Materialien (sekundär Elektronebild, Backscattered Elektron Image). Et kann benotzt ginn fir de Punkt, d'Linn an d'Uewerflächekomponente vum Mikroregioun z'analyséieren. Et gëtt vill benotzt am Pëtrol, Geologie, Mineralfeld, Elektronik, Halbleiterfeld, Medizin, Biologiefeld, chemesch Industrie, Polymermaterialfeld, krimineller Enquête iwwer ëffentlech Sécherheet, Landwirtschaft, Bëschaarbecht an aner Felder. |
Firmeninformatioun
Schreift Äre Message hei a schéckt eis en